PCT高压加速老化试验箱(又名PCT加速老化试验机)主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板力，IC力，LCD力，磁铁等产品之密封性能的检测力，测试其制品的耐压性力，气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

广泛应用于线路板,多层线路板力，IC力，LCD力，磁铁等产品之密封性能的检测力，测试其制品的耐压性力，气密性。

1、PCT高压加速老化试验箱采用顶级进口品牌配件,整机2年免费保修，采用最新优化设计，美观大方,做工细节优良；
2、大容量水箱,试验时间长，全自动补水,试验不中断；
3、进口"SHIMAX" LED双数显高精度自能温控器,误差:±0.1°C，或根据试验需要可采用真彩触摸屏控制器；
4、一体成型硅胶门垫圈,气密度良好,且使用寿命长，电路整合设计,操作简单维护方便；
5、最新优化设计，占地空间小，不受地域空间限制，并采用大视窗观察窗口,试验产品状态可视化更强;
6、采用抽屉式大容量水箱,试验时间长,并易拆卸清洗;
7、采用7"TFT真彩LCD触摸屏，比其它屏更大，更直观，操作更简单，运行更稳定;
8、试验箱的水路配电盘分离，确保设备稳定可靠安全;
9、蒸发器采用水浸查漏方法，查漏彻底，确保设备稳定运行;
10、采用模块化制冷机组，能确保制造质量，且维护替换非常方便;多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法功能显示