产品标题: 加速老化试验箱

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  • 主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。
    技术规格
    型号 TC-PCT-300 TC-PCT-350 TC-PCT-400
    控制器 采用 7″TFT真彩LCD触摸屏
         分辨率 温度:0.1压力:指针式0.1
    控制稳定度 温度:±0.5℃,湿度:100%
    内箱材质 SUS316#不锈钢
    外箱材质 高级钢板烤漆或不锈钢(依客户选择)
    尺寸(cm)

    内箱

    Φ30×D50 Φ35×D50 Φ40×D50

    外箱

    W90×H100×D160 W95×H100×D165 W100×H100×D165
    温度范围 110℃~132℃
    湿度范围 100%RH饱和蒸气
    压力范围 表压力+0.5~2.5kg/cm2
    加压时间 大约45分钟
    循环方式 水蒸气自然对流循环

     

    产品简介

     

    PCT高压加速老化试验箱(又名PCT加速老化试验机)主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板力,IC力,LCD力,磁铁等产品之密封性能的检测力,测试其制品的耐压性力,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。

     

    产品用途

     

    广泛应用于线路板,多层线路板力,IC力,LCD力,磁铁等产品之密封性能的检测力,测试其制品的耐压性力,气密性。

     

    产品特点

     

    1、PCT高压加速老化试验箱采用顶级进口品牌配件,整机2年免费保修,采用最新优化设计,美观大方,做工细节优良;
    2、大容量水箱,试验时间长,全自动补水,试验不中断;
    3、进口"SHIMAX" LED双数显高精度自能温控器,误差:±0.1°C,或根据试验需要可采用真彩触摸屏控制器;
    4、一体成型硅胶门垫圈,气密度良好,且使用寿命长,电路整合设计,操作简单维护方便;
    5、最新优化设计,占地空间小,不受地域空间限制,并采用大视窗观察窗口,试验产品状态可视化更强;
    6、采用抽屉式大容量水箱,试验时间长,并易拆卸清洗;
    7、采用7"TFT真彩LCD触摸屏,比其它屏更大,更直观,操作更简单,运行更稳定;
    8、试验箱的水路配电盘分离,确保设备稳定可靠安全;
    9、蒸发器采用水浸查漏方法,查漏彻底,确保设备稳定运行;
    10、采用模块化制冷机组,能确保制造质量,且维护替换非常方便;多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法功能显示

     

    资质证书 

    为了您的质量安全,我们更用心
    高新技术企业,广东省高新技术产品
    天诚优势
     

     

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